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射频测试系统

型 号SD6100

所属分类检测仪

报价

更新时间2024-06-12

产品描述:采用相同架构,充分利用了数模混合集成电路中的现有资源,使得射频测试部分即能独立工作,以低成本提供射频测试能力,又能与数模混合集成电路测试系统整合为统一机台,为市场提供高性能的混合、射频测试系统。

产品概述

品牌其他品牌应用领域化工,电子

产品描述

射频测试系统

SD6100与SD6200射频测试系统,采用相同架构,充分利用了数模混合集成电路中的现有资源,使得射频测试部分即能独立工作,以低成本提供射频测试能力,又能与数模混合集成电路测试系统整合为统一机台,为市场提供高性能的混合、射频测试系统。主要针对滤波器、开关模块、发射端射频放大器进行测试。

基本特征:

  • 1. 前沿创新性:提供开放的硬件平台和可自定义的应用软件,使工程 师轻松自定义测试流程

  • 2. 测试高效性:多总线兼容,自动化程度高,可多工位并行测试

  • 3. 功能扩展性:模块化架构可满足绝大部分扩展需求,功能模块扩展便捷迅速

  • 4. 软件易用性:保证强大使用功能的同时,系统对各硬件模块独立控制,支持软件分析



技术指标:


设备型号指标名称描述
SD6100频率范围300 kHz - 6 GHz
输出功率
调节范围
-45 dBm to +15 dBm
动态范围:140 dB (10 Hz 中频带宽) 典型值
测量频次16 μs 每点, 最小典型值
多工位模式支持多工位模式支持8个RF端口;提供50欧姆型号;多种高精度自动校准方式
SD6200射频源频率范围60 MHz - 6 GHz(可扩展至20 GHz)
射频源频率精度1 Hz
射频源功率范围<1 GHz, +20 dBm;<4 GHz, +17 dBm;<6 GHz, +15 dBm
射频源功率精度0.01dB
输出端口回波损耗<500 MHz, >12 dB; <4 GHz, >15 dB; >4 GHz, >10 dB
调制模式AM/FM;I/Q
调制带宽160 MHz
源测量模式频率范围60 MHz - 6 GHz
源端口和测量端口隔离度在不同端口模式: <5 GHz, >70 dB;>5 GHz, >60 dB;
在相同端口模式:<5 GHz, >50 dB;>5 GHz, >40 dB;
源测量模式功率范围+30 dBm
源测量模式功率精度±0.5 dB
RF分析中频带宽60~70 MHz,10 MHz; 70~80 MHz,20 MHz; 80~230 MHz,
40 MHz; 230~400 MHz,80 MHz;400~6000 MHz,160 MHz;
回波损耗4 GHz, >15 dB; >4 GHz, >10 dB
矢量网络分析仪频率范围60 MHz - 6 GHz(可扩展)
输出功率调节范围-30 dBm to +10 dBm
输出功率精度±0.4 dB
测量频次4 ms 每点
多工位模式支持多工位模式支持64个RF端口.,提供50欧姆型号,多种高精度自动校准方式.
支持单工位或者多工位并行测试。



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