薄膜厚度测量仪-膜厚仪：Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

薄膜厚度测量仪-膜厚仪结合显微镜的薄膜测量系统

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系统                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系统

Filmetrics薄膜厚度测量仪-膜厚仪的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。

当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，可以使用F40。使用先前足部校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。

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