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更新时间：2025-07-23
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在线XRF 光谱仪
Vanta iX在线XRF分析仪可以对材料进行自动分析
保持生产过程高速运行
值得依赖的准确性能
奥林巴斯Vanta iX在线X射线荧光（XRF）分析仪可以对生产线上的产品进行自动材料分析和合金牌号辨别，并即时提供结果，从而可对生产过程进行实时监控，并对合金进行100%无遗漏辨别。
这款分析仪可全天时、全天候（24/7）运行，经过配置，可提供通过/失败结果、准确的合金牌号，以及材料的化学成分信息。
• 高分辨率：辨别多种合金牌号，包括轻元素和重元素
• 快速提供准确的结果：分析仪具有速度快、稳定性强，及高计数率等特性
• 高效率：配备了硅漂移探测器（SDD），并采用了受好评的Axon技术（所有Vanta分析仪都采用了这种技术）
在金属制造过程中对产品进行100%无遗漏检测
对于采用工业4.0方案并对生产过程实施全天时、全天候（24/7）控制以验证合金的企业来说，可以使用Vanta iX分析仪对制造过程中的棒材、坯材、管材，以及机械加工零件和定制部件进行材料验证和批次/炉号控制。使用Vanta iX分析仪对产品进行自动化检测提升了成品的价值，因为可以借此证明材料经过了100%的检测和验证。
地质选矿过程中的扫查和监控
在地质选矿和采矿方面，Vanta iX分析仪可以对岩芯进行扫查，对传送带上的矿石进行分析，并提供实时结果，以监控选矿和采矿过程中发生的变化，并确保矿石品位的一致性。在对传送带上的矿石进行分析的过程中，分析仪可以为精矿提供配矿验证和选矿验证。
在线XRF 光谱仪智能整合
Vanta iX分析仪上有几个安装孔，可方便地将分析仪安装到现有的机器人或其他系统上。没有外部控制箱，因此可以通过PLC（可编程逻辑 控制器）和离散导线，或者通过Vanta Connect API（应用程序
编程接口）轻松控制分析仪。接口选项：
• 以太网（RJ-45），可启用以太网供电
• USB
• 离散I/O（16针）
• 辅助DC电源
坚固耐用，适用于生产线环境
Vanta iX分析仪可以承受住生产设备的剧烈振动、强烈的电磁噪声和声学噪音，并具有防尘和防潮的特性。
• 通过了振动测试和机械撞击测试（MIL-STD 810G）
• 符合IP54评级标准
• 可以在–10 °C至50 °C的温度范围内连续工作
内置散热器可以降低分析仪内部的温度，而通过机身上的风扇连接点可将分析仪与风扇连接，加强冷却效果。无需使用工具，就可以更换分析仪的窗口，从而实现快速维护的目标。
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Vanta iX分析仪的技术规格
外型尺寸（宽 × 高 × 厚） | 10 cm × 7.9 cm × 26.6 cm |
重量 | 2.4公斤 |
激励源 | X射线管：铑或钨阳极靶材（应用优化），5 ～ 200 µA MR型号：8 ～ 50 keV（最大4 W） CW型号：8 ～ 40 keV（最大4 W） |
主光束滤光片 | 8种滤光片位置，根据选择的光束和方式自动匹配。 |
探测器 | MR型号：大区域硅漂移探测器 CW型号：硅漂移探测器 |
电源 | 通过以太网（PoE+）或者18 V AC电源适配器供电。 |
可检测元素范围 | 取决于方式： MR型号：从镁（Mg）到铀（U）的元素 CW型号：从钛（Ti）到铀（U）的元素（使用标准窗口并经过校准） |
压力校正 | 内置气压计，用于海拔和空气压力的自动校正。 |
IP评级 | IP54 |
操作环境 | 温度范围：−10 °C ～ 50 °C，可连续工作。湿度：相对湿度为10 % ～ 90 %，无冷凝。 |
操作系统 | Linux |
应用软件 | 奥林巴斯专有的数据采集和处理软件包 |
耐用性测试 | 功能性撞击：通过了美军标准MIL-STD-810G，方式516.6：撞击程序I， 20g 11 ms（操作安全），40g 11ms（撞击安全）中的测试。 |
振动测试 | 通过了美军标准MIL-STD-810G，方法514.4：一般振动，程序I附录C， 图514.6C-5中的测试，1小时，一般暴露。 |
转接坠落测试 | 通过了美军标准MIl-STD-810G，方法516.6：转接坠落，程序IV中的测试， 26次坠落 |
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