薄膜厚度测量仪：以F20平台为基础所发展的F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件的模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层(例如：底漆或硬涂层等)。

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