产品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 综合 |
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热膨胀仪 SD-DIL 402 Expedis Supreme 基本功能
软化点检测
软件控制的力的调整（包括：线性力，恒定力，斜变力，步阶力）
调制力
密度测量
用于温度校正和检测热效应的c-DTA® 功能
速率控制烧结 RCS
曲线识别，通过数据库对比识别未知的ΔL/L0曲线
密度测量，能够测量样品密度的连续变化，可应用于固体、液体、熔体、粘稠样品（如涂料），以及用于计算各向异性材料的体膨胀。
热膨胀仪 SD-DIL 402 Expedis Supreme 技术参数
温度范围: -180 ... 2000°C（不同炉体）
升温速率: 0 ... 100°C/min（不同炉体）
测量气氛: 动态或静态；氧化、还原、惰性、真空
样品形态: 固体、液体、粉末
样品载荷: 10mN ... 3N，可变，可调制（选配）
选配扩展功能: c-DTA®、谱图检索、速率控制烧结
量程: ±25000μm
测量分辨率: 0.1nm
测试模式: 单样品/双样品，样品长度自动检测
Multitouch技术 : 标配
Nanoeye位移传感及载荷控制技术: 标配
双炉体: 选配